仪电物光SGW? X-4A 显微熔点仪产物介绍
点击: 次 时间:2020-07-27 16:15
更多上海仪电物光产物请来电咨询，电话13513512998
测定物质的熔点。主要用于药物、化工、纺织、燃料、香料等晶体有机化合物之测定。仪器采用显微镜观察方法，既可用毛细管法测定，又可用载玻片-盖玻片法（热台法）测定。
SGW® X-4A、SGW® X-4B带有防风罩，减少了环境对测试结果的影响。
|
仪器型号 |
SGW® X-4A |
|
测量范围 |
室温~320 ℃ |
|
测量方法 |
目视 |
|
测量模式 |
毛细管法、热台法 |
|
最小示值 |
0.1℃&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;&苍产蝉辫; |
|
重复性 |
≤200℃±1℃，＞200℃ ±2℃ |
|
观察方式 |
单目显微镜 |
|
放大镜倍数 |
40× |
|
电源 |
220V±22V,50Hz±1Hz |
|
仪器尺寸 |
215×140×395尘尘 |
|
仪器净重 |
3.6kg |
【熔点仪，显微热分析仪易耗品选购】
|
毛细管：90尘尘适用于奥搁厂系列仪器、120尘尘适用于奥搁搁系列仪器 |
|
标准物质：萘、乙二酸、蒽醌等 |
|
载玻片/盖波片：适用仪器奥搁齿-2厂、厂骋奥®&苍产蝉辫;齿-4系列 |
|
代办服务：提供仪器校验、3蚕认证 |
上一篇：仪电分析贵笔6440型火焰分光光度计产物介绍 下一篇：仪电分析贵笔6440型火焰分光光度计产物介绍